FLUKE 725Ex 本安型過程校驗儀|福祿克Fluke725Ex過程校驗儀

30.000 V

0.02%+ 2 個字 （顯示屏上部）

30.000 V

0.02%+ 2 個字 （顯示屏下部）

100.00 mV

0.02%+ 2 個字

-10.00 mV 至 75.00 mV

0.025 % + 1 個字 （使用熱電偶補償接頭）

24.000 mA

0.02%+ 2 個字

0.0 至 400.0 Ω

0.1Ω （4 線）, 0.15Ω （2 線和 3 線）

401 至 1500 Ω

0.5Ω （4 線）, 1Ω （2 線和 3 線）

1500 至 3200 Ω

1Ω （4 線）, 1.5Ω （2 線和 3 線）

2.0 至 1000.0 CPM

0.05 % + 1 個字

1.0 至 1100.0 Hz

0.05 % + 1 個字

1.00 至 10.00 kHz

0.05 % + 1 個字

靈敏度

1 V 峰－峰值，zui小

準確度

參考29款壓力模塊指標，常規指標：0.025% *量程

（詳細的技術指標請參考選件和附件部分的壓力模塊部分）

可提供差分、表壓、真空、壓力、雙壓力和高壓壓力模塊

100.00 mV

0.02%+2 個字

10.000 V

0.02%+2 個字

-10.00 mV 至 75.00 mV

0.025 % + 1 個字 （使用熱電偶補償接頭）

24.000 mA （輸出）

0.02%+ 2 個字

24.000 mA （模擬）

0.02%+ 2 個字

15.0 至 400.0 Ω

0.15 Ω （激勵電流0.15 至 0.5 mA）, 0.1 Ω （激勵電流0.5 至 2 mA）

401 至 1500 Ω

0.5 Ω（激勵電流0.05 至 0.8 mA）

1500 至 3200 Ω

1 Ω（激勵電流0.05 至 0.4 mA）

2.0 至 1000.0 CPM

0.05%

1.0 至 1100.0 Hz

0.05%

1.00 至 10.00 kHz

0.25%

波形：

5 V p-p 方波，-0.1 V 偏置

NI-120

0.2 °C

PT-100 （385）

0.33 °C

PT-100 （393）

0.3 °C

PT-100 （JIS）

0.3 °C

PT-200 （385）

0.2 °C

PT-500 （385）

0.3 °C

PT-1000 （385）

0.2 °C

分辨率

0.1 °C

J:

0.7 °C

K:

0.8 °C

T:

0.8 °C

E:

0.7 °C

R:

1.8 °C

S:

1.5 °C

B:

1.4 °C

L:

0.7 °C

U:

0.75 °C

N:

0.9 °C

分辨率

J, K, T, E, L, N, U: 0.1 °C, 0.1 °F B, R, S: 1 °C, 1 °F

NI-120

0.2 °C

PT-100 （385）

0.33 °C

PT-100 （393）

0.3 °C

PT-100 （JIS）

0.3 °C

PT-200 （385）

0.2 °C

PT-500 （385）

0.3 °C

PT-1000 （385）

0.2 °C

分辨率：

0.1 °C

注：

準確度指標為 4線測量方式下的準確度。

J:

0.7 °C

K:

0.8 °C

T:

0.8 °C

E:

0.7 °C

R:

1.4 °C

S:

1.5 °C

B:

1.4 °C

L:

0.7 °C

U:

0.75 °C

N:

0.9 °C

分辨率

J, K, T, E, L, N, U: 0.1 °C, B, R, S: 1 °C

輸出功能：

電壓、電流、電阻、頻率、溫度

斜坡功能

慢斜坡、快斜坡、25%的步進斜坡

電壓

24 V

準確度：

10%

zui大電流：

22 mA，短路保護

輸出功能：

電壓、電流、電阻、頻率、溫度

步進

量程的25% 和 99%